您的位置: 标准下载 » 国际标准 » DIN 德国标准 »

DIN EN 60747-16-4-2011 半导体器件.第16-4部分:微波集成电路.开关(IEC60747-16-4-2004+A1-2009).德文版本EN60747-16-4-2004+A1-2011

作者:标准资料网 时间:2024-05-18 22:45:13  浏览:9064   来源:标准资料网
下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:Semiconductordevices-Part16-4:Microwaveintegratedcircuits-Switches(IEC60747-16-4:2004+A1:2009);GermanversionEN60747-16-4:2004+A1:2011
【原文标准名称】:半导体器件.第16-4部分:微波集成电路.开关(IEC60747-16-4-2004+A1-2009).德文版本EN60747-16-4-2004+A1-2011
【标准号】:DINEN60747-16-4-2011
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2011-08
【实施或试行日期】:2011-08-01
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:基本术语;定义(术语);尺寸选定;电气工程;电子工程;电子设备及元件;功能;输入功率;介入损耗;集成电路工艺;集成电路;极限(数学);标志;测量;测量技术;微电子学;微波电路;参数;功率输出;回程损耗;半导体器件;半导体存储器;半导体;开关;开关电路;术语学;词汇表
【英文主题词】:Basicterms;Definitions;Dimensioning;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Functions;Inputpower;Insertionloss;Integratedcircuittechnology;Integratedcircuits;Limits(mathematics);Marking;Measurement;Measuringtechniques;Microelectronics;Microwavecircuits;Parameters;Poweroutput;Returnloss;Semiconductordevices;Semiconductormemory;Semiconductors;Switches;Switchingcircuits;Terminology;Vocabulary
【摘要】:
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_080_99
【页数】:30P.;A4
【正文语种】:德语


下载地址: 点击此处下载
基本信息
标准名称:电力调度工作流程描述规范
发布部门:国家能源局
发布日期:2012-08-23
实施日期:2012-12-01
首发日期:
作废日期:
出版社:中国电力出版社
出版日期:2012-12-01
适用范围

没有内容

前言

没有内容

目录

没有内容

引用标准

没有内容

所属分类: 医药 卫生 劳动保护 医药 卫生 劳动保护综合 医学 医药卫生技术 医学科学和保健装置综合
【英文标准名称】:TestingofLaminates;SplittingTestonLaminatedSheets
【原文标准名称】:层压材料的检验.层压板剥离试验
【标准号】:DIN53463-1974
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:1974-04
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:试样;试验;定义;塑料;叠层板材
【英文主题词】:definitions;laminates;testing;testspecimens;plastics
【摘要】:Testingofindustriallaminates;wedgingtestforindustriallaminatedsheets
【中国标准分类号】:G31
【国际标准分类号】:6810;6780
【页数】:1P;A4
【正文语种】:德语