NF C86-503-1986 半导体器件.电子元器件统一质量评审体系.光电晶体管、光电复合晶体管和光电半导体电路.空白详细规范CESS20003
作者:标准资料网 时间:2024-05-21 08:51:01 浏览:9746
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【英文标准名称】:Semiconductordevices.Harmonizedsystemofqualityassessmentforelectroniccomponents.Phototransistors,photodarlingtontransistorsandphototrasistor-arrays.BlankdetailspecificationCECC20003.
【原文标准名称】:半导体器件.电子元器件统一质量评审体系.光电晶体管、光电复合晶体管和光电半导体电路.空白详细规范CESS20003
【标准号】:NFC86-503-1986
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:1986-07
【实施或试行日期】:1986-06-05
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L54
【国际标准分类号】:31_260
【页数】:10P;A4
【正文语种】:其他
【英文标准名称】:Standardforinformationtechnology-Telecommunicationsandinformationexchangebetweensystems-Localandmetropolitanareanetworks-Specificrequirements-Part3:CarrierSenseMultipleAccesswithCollisionDetection(CSMA/CD)accessmethodandph
【原文标准名称】:信息技术标准.系统间通信和信息交换.局域网络和城域网络.特殊要求.第3部分:带冲突检出的载波侦听多路访问(CSMA/CD)访问方法和物理层规范.修改件3:经由媒体依赖型供电的数据终端设备(DTE)
【标准号】:IEEE802.3at-2009
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2009
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国电气电子工程师学会(US-IEEE)
【起草单位】:IEEE
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:频带宽度;电路网络;通讯;通信网;通信规程;通信系统;计算机网络;控制规程;带检测冲突的载波检测多址存取;数据链层;数据处理;数据终端;数据传送;数据传输;数据传输控制规程;数据传输方法;定义;电子数据处理(EDP);电气安全;光纤;信息交流;信息交换;信息处理;信息系统;信息技术;接口(数据处理);局部地区网络(LAN);局域网;局域电话网络;人类;文电;城域网;城域;多处理机;开式系统;开放系统互连;开放系统互连(OSI);性能;物理层;信号电平;信号;电信;电信传输法;通信;测试;传递函数;电压
【英文主题词】:Bandwidths;Circuitnetworks;Communication;Communicationnetworks;Communicationprocedures;Communicationsystems;Computernetworks;Controlprocedures;CSMA/CD;Datalinklayers;Dataprocessing;Dataterminals;Datatransfer;Datatransmission;Datatransmissioncontrolprocedures;Datatransmissionmethods;Definitions;EDP;Electricalsafety;Fibreoptics;Informationexchange;Informationinterchange;Informationprocessing;Informationsystems;Informationtechnology;Interfaces(dataprocessing);LAN;Localareanetworks;Localtelephonenetwork;MAN;Messages;Metropolitanareanetworks;Metropolitanareas;Multiprocessors;Opensystems;Opensystemsinterconnection;OSI;Performance;Physicallayers;Signallevel;Signals;Telecommunication;Telecommunicationtransmissionmethods;Telecommunications;Testing;Transferfunctions;Voltage
【摘要】:
【中国标准分类号】:M11
【国际标准分类号】:35_110
【页数】:141P;A4
【正文语种】:英语
基本信息
| 标准名称： | YAG 连续激光器 主要参数测试方法 |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术 >>
光电子器件 >>
激光器件 |
| 替代情况： | 标准内容已被GB/T 15175-1994 涵盖 |
| 发布部门： | 中华人民共和国机械工业部 |
| 发布日期： | 1992-05-27 |
| 实施日期： | 1993-04-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 2010-01-20 |
| 提出单位： | 北京光电技术研究所 |
| 归口单位： | 北京光电技术研究所 |
| 起草单位： | 北京光电技术研究所 |
| 起草人： | 俞元淮 |
| 出版社： | 机械工业出版社 |
| 出版日期： | 1993-03-01 |
| 页数： | 5页 |
| 批文号： | 机电科标[1992]1216号 |
适用范围
本标准规定了YAG连续激光器主要参数的测试方法。本标准适用于YL型YAG连续激光器，YLS型YAG连接激光器和YLT型YAG连续激光器（以下简称激光器）。
前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 电子元器件与信息技术 光电子器件 激光器件
